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得益于新一代處理器的應用，使儀器具有了更強大的數據處理能力，可將測試結果方便地存儲于U盤或通過多種接口上傳至上位PC或網絡，推進測試自動化，提高測試效率。本系列測試頻率*高為：20Hz-1MHz。具有0.05%的測試準確度、9ms/次的*高測試速度。儀器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB（選配）等豐富的接口，無不彰顯豐富的資源，將帶給客戶較好的性價比體驗。

 性能特點 
■ 測試頻率：20Hz-300kHz,分辨率：1mHz
■ 基本精度：0.05％
■ 測試速度：9ms/次
■ 壓電陶瓷、超聲波換能器等器件的阻抗分析與測試
■ 連續曲線掃描/圖形分析功能 
■ 可同時顯示四種測量參數
■ 800×RGB×480 7寸TFT LCD顯示器
■ 內置100組LCRZ設定文件
■ GIF圖像、CSV數據文件USB存儲器直接存儲
■ HANDLER、USB、LAN 、RS232C、GPIB（選件）DCI接口
■ 信號源選擇 10V/100mA可編程AC測試電平
■ 10V/100mA可編程DC偏置電源 10V/50mA獨立DC電壓源
■ 1A直流偏置電流源（選配）120A外部偏流源（選配）
■ *多201點列表掃描

應用
■ 無源元件:
   電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析
■ 半導體元件:
   LED驅動集成電路寄生參數測試分析；變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
■ 其它元件:
   印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
■ 介質材料:
   塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
■ 磁性材料:
   鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
■ 半導體材料:
   半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性